Traçabilité de l’exposition et analyse des risques par les travailleurs de 6 entreprises de semi-conducteurs, atteints de cancers hémato-lymphopoïétiques
Exposure reconstruction and risk analysis for six semiconductor workers with lymphohematopoietic cancers

R. Jones, L. Dell, C. Torres, C. Simmons, J. Poole, F. Boelter, P. Harper Journal of Occupational and Environmental Medicine, 2015, vol 57, n°6, pages 649-658. Bibliographie.

Les objectifs de cette enquête américaine sont de déterminer si les expositions professionnelles à des cancérogènes reconnus comme atteignant le système hémato-lymphoïétique peuvent être liées à des expositions dans la fabrication de semi-conducteurs dans six entreprises. Une matrice emploi-exposition a été développée pour les agents chimiques et physiques entrant dans le process de fabrication. Les expositions professionnelles cumulatives potentielles de six cas ont été retracées. Le rôle des expositions professionnelles dans le cancer a été évalué grâce à une évaluation quantitative des risques et en comparaison avec la littérature épidémiologique.

Deux travailleurs ont été exposés à des agents potentiellement capables d’être à l’origine de leur cancer. Les expositions étaient comparables à des niveaux retrouvés en milieu extérieur, et inférieurs à des expositions associées à des risques augmentés dans des études épidémiologiques. Les risques de cancer ont été estimés comme étant inférieurs à moins de 1 pour 10 000 personnes.

Le développement du cancer par sixtravailleurs était peu susceptible d’être expliqué par des expositions professionnelles à des cancérogènes reconnus comme atteignant le système hémato-lymphoïétique.

(publié le 21 août 2015)